1) illuminance testing
照度测试
2) Illuminance and Temperature Test
照度与温度测试
3) MCU design
参照测试
1.
According to the theory of referrence testing and a instance of MCU design,this thesis discusses an test automation method by using MCU model described by C language,in the process of MCU design by Verilog－ HDL.
文章以参照测试为理论基础、以 MCU设计为实例，阐述了在使用 Verilog HDL进行 MCU设计过程中如何利用高级语言 C描述的 MCU模型参与测试自动化的方法。
5) illumination photometry
照度测度
6) illuminance measurement
照度检测
补充资料：照度
分子式：
CAS号：
性质：又称辐照通量密度。符号为E。等于包含有考虑的位点在内的无限小面积元上照射的辐射通量或辐射功率P除以此面积元的面积(dP/dS。当在考虑的面积上的辐射功率为常数时，可简化成：E=P/S)。其SI制单位为W/m2。对于不被靶物及其环境所散射或反射的垂直入射的平行光束而言，它和积分通量功率相当。
CAS号：
性质：又称辐照通量密度。符号为E。等于包含有考虑的位点在内的无限小面积元上照射的辐射通量或辐射功率P除以此面积元的面积(dP/dS。当在考虑的面积上的辐射功率为常数时，可简化成：E=P/S)。其SI制单位为W/m2。对于不被靶物及其环境所散射或反射的垂直入射的平行光束而言，它和积分通量功率相当。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条