2) scatter light measurement
散射光测量
1.
Application of lock-in amplifier based on DAQ board and Lab View in scatter light measurement
基于采集卡和Lab View的锁相放大技术在散射光测量中的应用
5) scattering measurement
散射测量
1.
Effects of system imperfection on polarization scattering measurement of distributed targets;
系统误差对分布目标极化散射测量的影响
2.
The joint effect of nonlinear response characteristics and transmitting power fluctuation on scattering measurement is analyzed.
分析了非线性响应特性和发射功率波动对散射测量的联合效应,以及单独的散射测量在这种联合效应作用下产生误差的原因。
3.
This paper generalizes the normal polarimetric calibration model,and evaluates effects on full polarization scattering measurement of a point target from amplitude and phase inbalance of polar channels,crosstalk of antenna,Faraday rotation,target orientation error,interference and noise from system and environment.
在此基础上,评估了极化通道幅相不平衡、天线串扰、法拉第旋转、指向误差角、干扰和系统环境噪声对点目标全极化散射测量的影响,并考虑科学研究和应用需求对上述参数的约束条件,从而得到对极化合成孔径雷达系统设计和极化定标有参考价值的结论。
6) scatterometry
散射测量
1.
To break the limitation of traditional methods and provide robust and non-destructive measurement solution for the nano-scale profiles in the wafer fabrication,scatterometry base optical profile measurement has been developed rapidly and already implemented in most advanced fabs.
为了解决CD-SEM等方法所面临的局限性,以及提供强有力的晶圆纳米级轮廓检测方案以满足生产的需求,基于散射测量法(Scatterometry)的光学轮廓测量得到了迅猛发展,其成为了很多国际化生产厂的重要CD兼轮廓测量的手段。
补充资料：光散射
分子式：
CAS号：
性质：一束光线通过介质时在入射光方向以外的其他方向上都能检测到光强的现象。光是一种电磁波，传播时其交变的电磁场与介质中的分子发生相互作用，使分子中的电子发生强迫振动而产生电偶极子。振动着的偶极子是个次波源，它犹如一根天线向各个方向发散电磁波，这就是散射光波。如果介质是完全均匀的，则所有的偶极子的散射光波因相互干涉而完全抵消。若介质的光学均匀性遭到破坏，则这些散射光波不会完全抵消，结果观察到光散射现象。因此，产生光散射的必要条件是介质具有光学不均匀性。因为胶体粒子的折光指数往往与介质的不同，所以强烈的光散射是大多数胶体体系的重要特征。
CAS号：
性质：一束光线通过介质时在入射光方向以外的其他方向上都能检测到光强的现象。光是一种电磁波，传播时其交变的电磁场与介质中的分子发生相互作用，使分子中的电子发生强迫振动而产生电偶极子。振动着的偶极子是个次波源，它犹如一根天线向各个方向发散电磁波，这就是散射光波。如果介质是完全均匀的，则所有的偶极子的散射光波因相互干涉而完全抵消。若介质的光学均匀性遭到破坏，则这些散射光波不会完全抵消，结果观察到光散射现象。因此，产生光散射的必要条件是介质具有光学不均匀性。因为胶体粒子的折光指数往往与介质的不同，所以强烈的光散射是大多数胶体体系的重要特征。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条