1) patterned sapphire substrate
图形蓝宝石衬底
1.
LEDs with 2?μm thick n-GaN layer,four pairs of InGaN/GaN quantum well structures and 200?nm thick p-GaN layer were grown on the patterned sapphire substrate (PSS) by metal organic chemical vapor deposition (MOCVD).
衬底上的二维光子晶体结构采用激光全息技术和感应耦合等离子体(ICP)干法刻蚀技术制作,然后采用金属氧化物化学气相沉积(MOCVD)技术在图形蓝宝石衬底(PSS)上生长2μm厚的n型GaN层,4层量子阱和200nm厚的p型GaN层,形成LED结构。
2) sapphire substrate
蓝宝石衬底
1.
The effects of sapphire substrate mis-cut angle on the properties of GaN films;
蓝宝石衬底的斜切角对GaN薄膜特性的影响
2.
Growth of GaN film by HVPE was carried out on MOCVD-GaN template and sapphire substrate.
采用氢化物气相外延(HVPE)方法,以蓝宝石作衬底,分别在MOCVD-GaN模板和蓝宝石衬底上直接外延生长GaN。
3.
The chemical mechanical polishing of sapphire substrate was processed by means of alkali slurry with SiO_2 abrasive.
利用磨料为 SiO_2的碱性抛光液对蓝宝石衬底材料进行了化学机械抛光,并对蓝宝石衬底化学机械抛光(简称 CMP)的机理进行了深入的研究,指出了蓝宝石 CMP 的主要的动力学过程,并详细分析了影响各动力学过程的诸要素。
3) sapphire substrates
蓝宝石衬底
1.
The epitaxial relationship between NiO films and sapphire substrates was analyzed by using reflection high-energy electron diffraction.
本论文从研究NiO薄膜在蓝宝石衬底上的外延生长过程出发,运用XRD、AFM表征其结构、形貌,运用原位RHEED分析其外延匹配关系。
4) sapphire wafer
蓝宝石衬底
1.
This paper review the status,technology and progress of sapphire wafer for blue LED.
回顾了(0001)面蓝宝石衬底在LED的重要作用及其磨粒加工方法的发展进程。
2.
Sapphire wafer surface with surface error of peak-valley value less than 5 μm,standard deviation of roughness less than 0.
5的B4C磨粒对蓝宝石衬底进行粗研磨和精密研磨的试验研究。
5) polishing technique of sapphire substrate
蓝宝石衬底抛光
6) Sapphire compound substrate
蓝宝石复合衬底
补充资料：图形
图形
figure
图形【匈此:枷rypal 具有基本群G的齐性空间E”的一个子集F，它能包括在此空间的一个子集系统R(F)之中，而R(F)同构于几何对象中的某个空间(见几何对象理论(脚此tricobj眺，山印ryof)). R(F)称为F的甲形宇卿汤乎此sPaCe)·。的分量称为相配图形F的半标(叨司云以此).E”中的每个图形F对应于一类相似的几何对象{小}.{小}中的一个几何对象中的秩、亏格、特征及型称为图形F的攀(m泳)、季挣(g日山t)、特俘(cha.cte由tic)及犁(tyPe)(所谓甲形的算水不变量(面thlnetic in锥riantsof此fiqure)，见【2]).例如，三维Euclid空间中一个圆乃是一个秩为6，亏格为1，特征为1及型1的图形;三维射影空间中一点是一个秩为3，亏格为0，特征为2及型1的图形.定义几何对象小的完全可积Pfalr方程组称为F的平稳方程组(statio班币tys岁tonof闪uatlons). 设F和厂为尸中两个图形.如果存在R(F)到R(厂)上的映射，使得在此映射下每一个与厂相应的几何对象被每一个相应于F的几何对象所覆盖，则称F琴善或粤括了F(F称为被F覆盖或包括).秩为N的图形F称为简单的(s而Ple)，如果它不覆盖任何其他的低秩图形F称为指标等于凡
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参考词条