1) SJR
信干比测量
1.
In this paper,based on the analysis of the theory of SJR measurement and the influence of SJR on radar tactical performances,a quantitative test method for antijamming performances of surveillance radars is introduced.
本文通过对信干比测量理论及信干比对雷达战术性能影响的分析 ,提出了一种适用于警戒雷达在对抗试验中抗干扰性能定量测试的方法 ,同时给出了测试系统在基地试验中的测量结
2) SIR prediction
信干比预测
3) lowest detectable signal-to-interference-noise
最小可检测信/干噪比
4) signal-to-jamming ratio
"信/干"比
5) signal to interference ratio
信干比
1.
With the interference factor added into the power control equations, a calculation method has been derived, which demonstrates the relationship between the outage probability, the sensitivity of the base station receiver, the maximum transmission power of the mobile station, the expectation of signal to interference ratio(SIR), the coverage radius and the capacity of the cell.
在功率控制方程中加入干扰因子后 ,推导了中断概率、基站接收机灵敏度、移动台最大可允许的发射功率、信干比的期望值、路径损耗与小区覆盖半径、小区容量的关系式 ;在 2GHz频率 ,宽带、各种速率时 ,计算了基站接收信号的信干比、小区容量和小区的覆盖半
6) SIR
[英][sɜ:(r)] [美][sɝ]
信干比
1.
A Novel SIR Estimation Technique in CDMA Systems;
一种新的CDMA系统信干比估计方法
2.
SIR Measurement Research & Implementation in Base Station of WCDMA Telecommunication System;
WCDMA系统基站信干比测量研究及实现
3.
An integrated power and rate control scheme was proposed, based on SIR(signal to interference ratio) balancing in this kind of CDMA systems.
为了使移动通讯系统获取最大容量,针对可变扩频因子码分多址接入(CDMA)系统,给出了一种基于信干比(SIR)平衡的功率速率联合控制方案。
补充资料：长度测量工具：比长仪
以不接触光学定位方法瞄準被测长度﹐主要用於测量线纹距离的精密长度测量工具。
比长仪一般採用测量显微镜或光电显微镜作为瞄準定位部件﹐并以精密线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度﹐与被测长度比较而确定量值。比长仪主要用於检定线纹尺﹐测量分划板上的线距和物理﹑天文类照相底片上的光波谱线距离﹐也可用於测量孔径。
比长仪按结构布局分为纵向的和横向的两类。纵向比长仪採用线纹尺作为已知长度﹐且结构设计符合阿贝原则(见长度测量工具)﹐称为阿贝比长仪(见图 阿贝比长仪 )。
测量时﹐先用测量显微镜瞄準被测线条﹐从读数显微镜读得一数值。然后移动工作台﹐再用测量显微镜瞄準另一被测线条﹐从读数显微镜读得另一数值。这两个数值之差即是被测两线条间距离。横向比长仪的被测长度和已知长度是并列布置的﹐这种布局可以缩短导轨长度﹐但要求导轨精度高。採用爱宾斯坦光学系统﹐可以补偿结构不符合阿贝原则而產生的测量误差。以光电显微镜代替上述两种显微镜者﹐称为光电比长仪﹔採用激光或其他单色光波长作为已知长度者﹐分别称为激光比长仪和光电光波比长仪。阿贝比长仪的测量精确度为±1～±1.5微米/200毫米﹐光电比长仪可达到±0.5微米/1000毫米﹐而光电光波比长仪和激光比长仪则可达到±0.2微米/1000毫米。
比长仪一般採用测量显微镜或光电显微镜作为瞄準定位部件﹐并以精密线纹尺的刻度或光波波长作为已知长度﹐与被测长度比较而确定量值。比长仪主要用於检定线纹尺﹐测量分划板上的线距和物理﹑天文类照相底片上的光波谱线距离﹐也可用於测量孔径。
比长仪按结构布局分为纵向的和横向的两类。纵向比长仪採用线纹尺作为已知长度﹐且结构设计符合阿贝原则(见长度测量工具)﹐称为阿贝比长仪(见图 阿贝比长仪 )。
测量时﹐先用测量显微镜瞄準被测线条﹐从读数显微镜读得一数值。然后移动工作台﹐再用测量显微镜瞄準另一被测线条﹐从读数显微镜读得另一数值。这两个数值之差即是被测两线条间距离。横向比长仪的被测长度和已知长度是并列布置的﹐这种布局可以缩短导轨长度﹐但要求导轨精度高。採用爱宾斯坦光学系统﹐可以补偿结构不符合阿贝原则而產生的测量误差。以光电显微镜代替上述两种显微镜者﹐称为光电比长仪﹔採用激光或其他单色光波长作为已知长度者﹐分别称为激光比长仪和光电光波比长仪。阿贝比长仪的测量精确度为±1～±1.5微米/200毫米﹐光电比长仪可达到±0.5微米/1000毫米﹐而光电光波比长仪和激光比长仪则可达到±0.2微米/1000毫米。
说明：补充资料仅用于学习参考，请勿用于其它任何用途。
参考词条