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1)  test ear cap
测试耳盖
2)  Hall effect
霍耳测试
1.
MOVPE Growth and characterization by hall effect easurement of Si δdoped GaAs/Al 0.3 Ga 0.7 As heterogeneous structure;
使用自动变温霍耳测试系统测定了减压MOVPE外延生长的硅δ掺杂GaAs/Al0。
3)  coverage test
覆盖测试
1.
Implementation of assembler program coverage testing with GNU tool;
利用GNU工具实现汇编程序覆盖测试
2.
Through going deep into research,a coverage test tool model about ARM system embedded software is introduced,the design principle,system model and functional module are given,a concrete illumination about every module is given,puts emphasis on the lexical analysis,parsing and the mode of in- strumentation,and brings forward a new mode.
随着嵌入式系统的复杂性不断提高,嵌入式软件测试变得越来越重要;通过对ARM系统软件进行深入的研究,提出了一种应用于ARM嵌入式软件系统的覆盖测试工具的设计原理、系统模型及组成模块,分别就各个模块的具体设计进行了详细说明,着重探讨了词法语法分析和插装方式,提出了一种新的词法语法分析和插装方式;该工具能够实现ARM系列嵌入式软件的自动测试,测试了代码执行的覆盖情况。
3.
The method and principle of the coverage test is discussed.
在实际应用中覆盖测试分析采用测量方法的多样性决定了代码插装需要识别程序结构特征的复杂性。
4)  coverage testing
覆盖测试
1.
An algorithm is proposed for calculating the branch routes of an embedded assembly program in software coverage testing.
说明了覆盖测试是软件测试中的重要方法,是软件动态测试的基本手段。
2.
Coverage testing and performance analysis is the important testing technique of the embedded software in the embedded development environment.
嵌入式软件的覆盖测试和性能分析是嵌入式环境下重要的测试方法,所以开发嵌入式环境下的覆盖测试和性能分析工具有一定的现实意义。
3.
An algorithm is proposed for calculating the unreachable instructions of an embedded assembly program in software coverage testing.
说明了覆盖测试是软件测试中的重要方法,是软件动态测试的基本手段。
5)  Test coverage
测试覆盖
6)  test coverage
测试覆盖率
1.
Namely,the method and optimization works applied here greatly improve DFT quality and its test coverage.
介绍了VLSI芯片的测试技术及故障模型,针对一款数字电视接收系统解调芯片,从设计中不同的阶段分析了集成电路的可测试性设计及其优化,解决了由于集成大量存储器引起的测试覆盖率低的问题,完成了该芯片满足时序要求的可测试性设计及优化过程,达到了流片要求。
2.
With the increasing enhancement of chip indensity and progress of manufacture technology,new test methodologies and fault models need to be developed to meet the target of high test coverage and product yield.
随着芯片集成度的持续提高以及制造工艺的不断进步,对测试覆盖率和产品良率的严格要求,需要研究新的测试方法和故障模型。
3.
This paper presents a method,which uses metaheuristic search techniques for test date generation,to improve test coverage for the part of low probability to be executed in the programme under test.
这种方法能够针对测试中低概率执行部分产生测试数据,提高测试覆盖率,并通过实验举例说明了该方法的可行性。
补充资料:盖耳-曼,M.
      美国理论物理学家。1929年9月15日生于纽约,1948年毕业于耶鲁大学。1951年得麻省理工学院哲学博士学位。后曾在普林斯顿高级研究院工作和在芝加哥大学任教。1955年到加利福尼亚理工学院任教,1956年任该校教授。
  
  1947年在宇宙线中发现了奇异粒子。奇异粒子的大的产生截面和长的衰变寿命曾经是难于解释的矛盾现象。1953年盖耳-曼和日本的中野董夫、西岛和彦彼此独立地提出了奇异量子数的概念和盖耳-曼-西岛法则,成功地解决了这一矛盾,并为后来强子分类的研究工作奠定了基础。1958年他和R.P.费因曼合作,提出了弱相互作用的矢量-赝矢量型理论。这是经过20余年曲折发展以后达到的关于弱相互作用的正确的唯象理论。这一理论为以后S.L.格拉肖、A.萨拉姆和S.温伯格建立电磁相互作用和弱相互作用的统一理论开辟了道路(见电弱统一理论)。
  
  20世纪50年代末和60年代初在实验上发现了大量新的强子。1961年盖耳-曼提出强子分类的"八重态法",解释了大量实验事实,并预言了Ω-粒子的存在。Ω-粒子于 1964年在实验上被发现〔见SU(3)对称性〕。1964年他发展了坂田昌一关于强子结构的思想,提出了强子结构的"夸克模型"。
  
  由于对于粒子分类和相互作用的研究的贡献,盖耳-曼获得1969年诺贝尔物理学奖。
  

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参考词条