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1)  top slice
顶部切片
2)  vane tip
叶片顶部
3)  thin section
内部切片法
1.
Age determination of freshwater mussels using the method of thin section;
内部切片法测定淡水贝类的年龄
4)  tip leakage
叶片顶部泄漏
5)  decapitation callus method
愈伤组织顶部切除法
6)  mackerel-style split
脊部切二片的(鲐)鱼片
补充资料:电离层顶部探测
      利用空间飞行器携带小型垂直测高仪探测上部电离层的一种方法。上部电离层是指F2层电子密度最大值所在高度以上的电离层区域。上部电离层是不能在地面用垂直测高仪进行探测的(见电离层垂直探测),而必须将小型垂直测高仪放在卫星等飞行器上,在上部电离层或更高的高度上向下探测。顶外探测的主要参量是电子密度随高度的分布。其优点是可以连续获得较大范围的上部电离层电子密度剖面。
  
  
  顶外探测的基本原理与电离层垂直探测相同,电离图如图。图中给出了虚深(或视在高度)与电波频率的关系。虚深是从卫星至电波反射处的距离。图中还有寻常波、非常波和Z波描迹(O、X和Z),可以用来推算电子密度分布。fOS、fXS、fZS为这3种波的低频端截止频率,它们相当于电波在卫星高度上的反射频率。fOF2、fXF2为F2层峰值处反射频率的寻常波分量和非常波分量,这些波还可能向下穿透F2层并在Es层或地球表面反射,产生Es层或地球回波的寻常波分量和非常波分量。fT是Z波的高频端截止频率,它是由于发射机浸在等离子体中而产生的。除了这些描迹外,当探测频率等于卫星附近的等离子体频率时,就会出现等离子谐振频率fN的谐振线;当探测频率等于卫星所在高度的电子回旋频率时,就会出现电子回旋频率fH的谐振线,或高次谐振现象,其频率为nfH。而上混合谐振频率。此外,当卫星所在区域的电子密度较低,即fI=fH时,还可观测到谐振差拍现象;在非常波描迹上观测到远距谐振现象,它发生在卫星以下高度,此时非常波的反射波频率等于2fH
  
  分析研究顶外探测的电离图,可以得到上部电离层的电子密度垂直剖面及其时空变化,还可以研究发生在电离层等离子体中的各种谐振现象。
  

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