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1)  bias detection
偏压检波,偏压探测,偏流检波
2)  bias detector
偏压检波器
3)  C battery C detector
栅偏压检波
4)  detector balanced bias
偏压平衡检波器
5)  detector balance bias
检波器平衡偏压
6)  grid-bias detector
栅偏压检波器
补充资料:波片
波片
waveplate
    能使互相垂直的两光振动间产生附加光程差  或相位差)的光学器件。通常由具有精确厚度的石英、方解石或云母等双折射晶片做成,其光轴与晶片表面平行。以线偏振光垂直入射到晶片,其振动方向与晶片光轴夹 θ 角( θ≠0、 !!!B1315_1 ),入射的光振动分解成垂直于光轴(o振动)和平行于光轴(e振动)两个分量,它们对应晶片中的 o光和e光(见双折射)。晶片中的o光和e光沿同一方向传播,但传播速度不同(折射率不同),穿出晶片后两种光间产生(n0 ne)d光程差(见光程),d为晶片厚度,n0ne为o光和e光的折射率,两垂直振动间的相位差为Δj=2πn0ne d/λ。 两振动一般合成为椭圆偏振(见光的偏振)。Δj=2kπk为整数)时合成为线偏振光;Δj=(2k+1)π/2,且θ=45°时合成为圆偏振光 。凡能使o光和 e光产生λ/4附加光程差的波片称为四分之一波片。若以线偏振光入射到四分之一波片,且θ=45°,则穿出波片的光为圆偏振光;反之,圆偏振光通过四分之一波片后变为线偏振光。凡能使o光和e光产生λ/2附加光程差的波片称为二分之一波片。线偏振光穿过二分之一波片后仍为线偏振光,只是一般情况下振动方向要转过一角度。光程差可任意调节的波片称补偿器,补偿器常与起偏器结合使用以检验光的偏振状态。
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参考词条