1) Measured Parameter
被测参数
2) tested element
被测要素
3) Channel of measurement
被测通道
4) inspected part
被测制件
5) measured size
被测尺寸
6) DUTs
被测件
1.
The tip-extension SOLT calibration,after which the measurement references plane arrive at inner-DUT,has been developed for direct measurement without de-embedding of on-wafer DUTs.
介绍了一种“针尖前移”的在片SOLT校准方法,使用这种校准方法可以将测试参考面直接校准到内部被测件,从而可以进行无去内嵌(De-embedding)操作的直接测量。
参考词条
补充资料：被被
1.长大貌。《楚辞．九歌．大司命》:"灵衣兮被被，玉佩兮陆离。"王逸注:"被被，长貌，一作披。"姜亮夫校注:"灵衣，当作云衣……言余衣被云衣，则披然而长，玉佩则陆离而美。"一说为飘动貌。王夫之通释:"被音披。被被，犹言翩翩。"按，《文选．潘岳<寡妇赋>》"仰神宇之寥寥兮，瞻灵衣之披披"李善注引《楚辞》作"披披"。刘良注:"披披，动儿。"
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