1)  Measured Parameter
被测参数
2)  tested element
被测要素
3)  Channel of measurement
被测通道
4)  inspected part
被测制件
5)  measured size
被测尺寸
6)  DUTs
被测件
1.
The tip-extension SOLT calibration,after which the measurement references plane arrive at inner-DUT,has been developed for direct measurement without de-embedding of on-wafer DUTs.
介绍了一种“针尖前移”的在片SOLT校准方法,使用这种校准方法可以将测试参考面直接校准到内部被测件,从而可以进行无去内嵌(De-embedding)操作的直接测量。
参考词条
补充资料:被被
1.长大貌。《楚辞.九歌.大司命》:"灵衣兮被被,玉佩兮陆离。"王逸注:"被被,长貌,一作披。"姜亮夫校注:"灵衣,当作云衣……言余衣被云衣,则披然而长,玉佩则陆离而美。"一说为飘动貌。王夫之通释:"被音披。被被,犹言翩翩。"按,《文选.潘岳<寡妇赋>》"仰神宇之寥寥兮,瞻灵衣之披披"李善注引《楚辞》作"披披"。刘良注:"披披,动儿。"
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